8.1 Образцы загружают в испытательную камеру при комнатной температуре и устанавливают в вертикальном положении так, чтобы они располагались на расстоянии не менее 20 мм друг от друга и не менее 100 мм от поверхностей камеры.
8.2 Снижают температуру в испытательной камере до температуры испытания и выдерживают образцы при данной температуре в течение установленного времени (см. раздел 7).
8.3 По истечении времени выдержки температуру в испытательной камере повышают до (20±3)°С и извлекают из нее образцы. Образцы протирают сухой мягкой неворсистой тканью и подвергают визуальному контролю.
8.4 Образцы осматривают при рассеянном освещении и отмечают обнаруженные пороки (отлипы, пятна, деформация пленки и т.д.). Освещенность поверхности образцов должна быть от 300 до 600 лк.
8.5 Если в нормативном документе на изделие конкретного вида установлены требования по определению дополнительных характеристик образцов после их выдержки в испытательной камере, определяют данные характеристики с использованием методов, указанных в нормативном документе.